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6332A/B光回波損耗測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:

產(chǎn)品綜述
6332A/B光回波損耗測(cè)試儀內(nèi)置2×2光開關(guān),可快速實(shí)現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測(cè)試。光回波損耗測(cè)試時(shí),不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液,顯著提高光回波損耗測(cè)試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測(cè)模塊,實(shí)現(xiàn)光插入損耗準(zhǔn)確測(cè)試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。

更新時(shí)間:2018-11-09

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6332A/B光回波損耗測(cè)試儀

6332A/B光回波損耗測(cè)試儀

產(chǎn)品綜述

6332A/B光回波損耗測(cè)試儀內(nèi)置2×2光開關(guān),可快速實(shí)現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測(cè)試。光回波損耗測(cè)試時(shí),不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液,顯著提高光回波損耗測(cè)試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測(cè)模塊,實(shí)現(xiàn)光插入損耗準(zhǔn)確測(cè)試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。

功能特點(diǎn)

主要特點(diǎn)

  回?fù)p測(cè)量無需纏繞或使用匹配液

  適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測(cè)試,待測(cè)光纖跳線短至70cm

  全自動(dòng)雙波長(zhǎng)光插回?fù)p同時(shí)測(cè)試

  單向和雙向測(cè)試,縮短測(cè)試時(shí)間

  設(shè)定不同插回?fù)p閾值

  同時(shí)顯示插回?fù)p測(cè)試結(jié)果

  保存參考和待測(cè)的測(cè)試結(jié)果,測(cè)試裝置不變的話,可以直接調(diào)用保存的參考數(shù)據(jù)

回?fù)p測(cè)量無需纏繞或使用匹配液

 儀器采用光時(shí)域反射技術(shù),區(qū)別于傳統(tǒng)的光連續(xù)波反射技術(shù),相應(yīng)地避免了光回波損耗測(cè)量過程中的纏繞或者使用匹配液,提高了測(cè)試效率。

適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測(cè)試,待測(cè)光纖跳線短至70cm

不同型號(hào)儀器測(cè)試的回波損耗分別能低至14dB和高達(dá)80dB,這樣,可以根據(jù)產(chǎn)品回波損耗值來選擇不同型號(hào)的儀器。儀器設(shè)計(jì)了窄脈寬的激光器脈沖光驅(qū)動(dòng)電路,當(dāng)待測(cè)光回波損耗超過40dB時(shí),待測(cè)光纖跳線可短至70cm。

全自動(dòng)雙波長(zhǎng)光插回?fù)p同時(shí)測(cè)試

 測(cè)試過程中,選中雙波長(zhǎng)之后,參考測(cè)試可顯示雙波長(zhǎng)的輸出光功率,待測(cè)件測(cè)試可顯示雙波長(zhǎng)的光插入損耗和光回波損耗測(cè)試結(jié)果。

單向和雙向測(cè)試,縮短測(cè)試時(shí)間

 儀器通過內(nèi)置2×2光開關(guān),可以從不同輸出端口輸出脈沖光,從而實(shí)現(xiàn)單雙向測(cè)試功能。雙向測(cè)試時(shí),一次連接光纖跳線的兩個(gè)端面,一次測(cè)試即可測(cè)出跳線的光插入損耗和這兩個(gè)端面的光回波損耗,從而使測(cè)試時(shí)間減半。

設(shè)定不同插回?fù)p閾值

       進(jìn)入儀器設(shè)置測(cè)試條件界面,在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應(yīng)的數(shù)值,那么在測(cè)試結(jié)果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會(huì)顯示為紅色,其他為藍(lán)色。

 

典型應(yīng)用

如下圖所示,使用6332A/B光回波損耗測(cè)試儀同時(shí)測(cè)試FC/APC—FC/APC型跳線的光插入損耗和光回波損耗。

對(duì)6332A/B光回波損耗測(cè)試儀進(jìn)行參考測(cè)試之后,接入待測(cè)跳線,點(diǎn)擊測(cè)試鍵,即可測(cè)出待測(cè)光纖跳線的光插入損耗和光回波損耗。

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